Compartir
1/f Noise Measurement System & Studies on Thin Films of CdO and Ag
Vedanayakam S. Victor (Autor)
·
Scholars' Press
· Tapa Blanda
1/f Noise Measurement System & Studies on Thin Films of CdO and Ag - Vedanayakam S. Victor
$ 78.170
$ 156.330
Ahorras: $ 78.160
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Miércoles 31 de Julio y el
Miércoles 07 de Agosto.
Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.