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portada Achtes Kolloquium Über Metallkundliche Analyse Mit Besonderer Berücksichtigung Der Elektronenstrahl- Und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. Bis 29. Ok (en Alemán)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Alemán
N° páginas
596
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
22.9 x 15.2 x 3.1 cm
Peso
0.80 kg.
ISBN13
9783211814338

Achtes Kolloquium Über Metallkundliche Analyse Mit Besonderer Berücksichtigung Der Elektronenstrahl- Und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. Bis 29. Ok (en Alemán)

Zacherl, M. K. (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Achtes Kolloquium Über Metallkundliche Analyse Mit Besonderer Berücksichtigung Der Elektronenstrahl- Und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. Bis 29. Ok (en Alemán) - Zacherl, M. K.

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Reseña del libro "Achtes Kolloquium Über Metallkundliche Analyse Mit Besonderer Berücksichtigung Der Elektronenstrahl- Und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. Bis 29. Ok (en Alemán)"

Die chemische Zusammensetzung der Oberfläche von Materia- lien, die aus zwei oder mehr Komponenten bestehen, wird sehr oft durch den Einflu der Primärelektronen sowie durch das Zerstäu- ben, wie es zur Reinigung der Probenoberfläche, bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen verwendet wird, drastisch verändert. In einer quantitativen Beschreibung der Oberflächenzusammensetzung müs- sen daher die verschiedenen Effekte, die durch die primären Elek- tronen oder Ionen hervorgerufen werden, grundsätzlich berücksich- tigt werden. Entsprechend der Verschiedenartigkeit der auftreten- den Effekte scheint es unmöglich, dafür ein allgemeingültiges Modell aufzustellen. Mit der vorliegenden Arbeit wird versucht, den Einflu der er- wähnten Primärteilchen bei der Untersuchung von Oxiden, Carbo- naten, Silikaten und Legierungen zu demonstrieren. Im zweiphasi- gen Legierungssystem Ag-Cu zeigte sich ein zusätzlicher Effekt, der durch die bevorzugte Oberflächendiffusion von Silber erklärt wer- den kann. Summary Influence of the Prohing Electron Beam and Sputtering in AES The prohing electron beam and sputtering used for cleaning and depth profiling influences the chemical composition of composite materials often in a dramatic way. Therefore, in a complete analysis several effects in- duced by the incident electrons or ions have to be included in a quantitative description of the surface composition. No general model can be given as these effects depend on the type of material investigated. The present paper deals with oxides, carbonates, silicates, and alloys to show the influence of the prohing electrons or ions.

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