Semana del libro importado hasta con 50% dcto  Ver más

menú

0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional
portada Practical Electron Microscopy of Lattice Defects
Formato
Libro Físico
Idioma
Inglés
N° páginas
308
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
22.9 x 15.2 x 1.9 cm
Peso
0.59 kg.
ISBN13
9789811234699

Practical Electron Microscopy of Lattice Defects

Hiroyasu Saka (Autor) · World Scientific Publishing Company · Tapa Dura

Practical Electron Microscopy of Lattice Defects - Saka, Hiroyasu

Sin Stock

Reseña del libro "Practical Electron Microscopy of Lattice Defects"

'Although the study of such defects is regularly examined at length in more general books on electron microscopy, this text in which they are centre-stage will surely be appreciated.' [Read Full Review]UltramicroscopyThis unique reference text provides those who are studying crystal lattice defects using a transmission electron microscope (TEM) with a basic knowledge of transmission electron microscopy. As it has been written for beginners, the principles of both transmission electron microscopy and crystallography have been clearly and simply explained, with the use of many figures and photographs to aid understanding. Mathematics is avoided where possible, and problems and exercises are amply provided.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes