Compartir
Research on the Radiation Effects and Compact Model of Sige Hbt (en Inglés)
Yabin Sun
(Autor)
·
Springer
· Tapa Blanda
Research on the Radiation Effects and Compact Model of Sige Hbt (en Inglés) - Sun, Yabin
$ 187.610
$ 260.570
Ahorras: $ 72.960
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Miércoles 17 de Julio y el
Miércoles 24 de Julio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Research on the Radiation Effects and Compact Model of Sige Hbt (en Inglés)"
Nominated as an outstanding PhD dissertation by Tsinghua University, China Proposes a new technique for detecting displacement damage in silicon-germanium (SiGe) heterojunction bipolar transistors (HBTs) with swift heavy ions instead of neutrons Presents an improved, high-frequency, small-signal model for SiGe HBTs taking into account the distribution characteristics
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.
